測量範圍

0.000 ~ 3.700 OD

波長範圍

340 ~ 800 nm

波長設定

以1nm為間隔設定

波長掃描

5秒內完成單一well的全波長掃描

半波長寬

小於3nm

精確度

+/- 1% and +/- 0.005 OD up to 2.5 OD

再現性

+/- 0.5% and +/- 0.005 OD up to 2.5 OD

使用孔盤類型

12、24、48 、 96 well plates及 384 well plates
( HD version )

光源

30瓦鎢鹵素燈

偵測系統

矽二極體 ( silicon diode )

測量系統

單通道光學系統，具有自動檢查和校正功能